回答下列與噬菌體侵染細(xì)菌實(shí)驗(yàn)有關(guān)的問題:
Ⅰ.1952年,赫爾希和蔡斯利用放射性同位素標(biāo)記的新技術(shù),完成了著名的噬菌體侵染細(xì)菌的實(shí)驗(yàn),如圖是實(shí)驗(yàn)的部分步驟:
(1)實(shí)驗(yàn)的第一步用35S標(biāo)記噬菌體的蛋白質(zhì)外殼;第二步把35S標(biāo)記的噬菌體與細(xì)菌混合。如圖所示,第三步采用攪拌和離心等手段,其中攪拌的目的是
使吸附在細(xì)菌上的噬菌體與細(xì)菌分離
使吸附在細(xì)菌上的噬菌體與細(xì)菌分離
。
(2)第四步離心后的實(shí)驗(yàn)結(jié)果說明 蛋白質(zhì)外殼未進(jìn)入細(xì)菌
蛋白質(zhì)外殼未進(jìn)入細(xì)菌
。
Ⅱ.另一組實(shí)驗(yàn)用32P標(biāo)記的噬菌體侵染大腸桿菌,理論上,上清液不含放射性,沉淀物具有很高的放射性;而實(shí)際結(jié)果顯示:離心后上清液中也具有一定的放射性,沉淀物放射性比理論值略低。
(3)由于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和理論數(shù)據(jù)之間有較大的誤差,由此對實(shí)驗(yàn)過程進(jìn)行誤差分析:
a.在實(shí)驗(yàn)中,從噬菌體和大腸桿菌混合培養(yǎng)到用離心機(jī)分離,這一段時(shí)間如果過長,會使上清液的放射性含量升高,其原因是 保溫時(shí)間過長,子代噬菌體釋放進(jìn)入上清液
保溫時(shí)間過長,子代噬菌體釋放進(jìn)入上清液
。
b.在實(shí)驗(yàn)中,如果有一部分噬菌體沒有侵染到大腸桿菌細(xì)胞內(nèi),將 是
是
(填“是”或“不是”)誤差的來源,理由是 保溫時(shí)間過短,噬菌體還未侵入細(xì)菌內(nèi)部被離心后進(jìn)入上清液,也會造成上清液放射性偏高
保溫時(shí)間過短,噬菌體還未侵入細(xì)菌內(nèi)部被離心后進(jìn)入上清液,也會造成上清液放射性偏高
。
(4)該實(shí)驗(yàn)證明了“T2噬菌體的遺傳物質(zhì)是DNA”,支持該結(jié)論的重要實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象是 在細(xì)菌裂解釋放出的子代噬菌體中可以檢測到32P標(biāo)記的DNA,但不能檢測到35S標(biāo)記的蛋白質(zhì)
在細(xì)菌裂解釋放出的子代噬菌體中可以檢測到32P標(biāo)記的DNA,但不能檢測到35S標(biāo)記的蛋白質(zhì)
。
Ⅲ.噬菌斑(圖甲)是在長滿細(xì)菌的培養(yǎng)基上,由一個(gè)噬菌體侵染細(xì)菌后,細(xì)菌不斷裂解產(chǎn)生的一個(gè)不長細(xì)菌的透明小圓區(qū),它是檢出噬菌體數(shù)量的重要方法之一?,F(xiàn)利用連續(xù)取樣、在培養(yǎng)基中培養(yǎng)的方法測得T2噬菌體在感染大腸桿菌后數(shù)量變化曲線(圖乙),下列敘述正確的是 D
D
。
?
A.曲線a~b段細(xì)菌細(xì)胞中正旺盛地進(jìn)行細(xì)菌DNA的復(fù)制和有關(guān)蛋白質(zhì)的合成
B.曲線a~b段噬菌斑數(shù)量不變,說明此階段噬菌體還沒有開始侵染細(xì)菌
C.由b到c對應(yīng)時(shí)間內(nèi)噬菌體共繁殖了10代
D.限制d~e段噬菌斑數(shù)量增加的因素最可能是細(xì)菌已經(jīng)絕大部分被裂解