【加試題】用萬(wàn)用表測(cè)量光敏電阻時(shí)，以下說(shuō)法中不合理的選項(xiàng)是（　?。?/h1>

A．轉(zhuǎn)換開關(guān)可打在Ω2×1K擋

B．將光敏電阻透光窗口對(duì)準(zhǔn)入射光線，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動(dòng)，使其間斷受光，此時(shí)，萬(wàn)用表指針如隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)，說(shuō)明光敏電阻性能正常。

C．將一光源對(duì)準(zhǔn)光敏電阻的透光窗口，此時(shí)萬(wàn)用表的指針有較大幅度的向右擺動(dòng)，此時(shí)用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，指針基本不偏轉(zhuǎn)，說(shuō)明光敏電阻性能好。

D．用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時(shí)萬(wàn)用表的指針如有較大幅度的向右擺動(dòng)，說(shuō)明光敏電阻已損壞。

【答案】C

【解答】

【點(diǎn)評(píng)】

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發(fā)布：2024/7/4 8:0:9組卷：0引用：1難度：0.5

相似題

2．如圖所示是照相機(jī)電子測(cè)光電路，光線從孔板透過(guò)遮光板照射在R1上，移動(dòng)遮光板可以改變光線照射到R1上的強(qiáng)弱，其中遮光板越厚光線越弱。其中R1是光敏電阻，VD1和VD2是發(fā)光二極管，VD1和VD2的發(fā)光情況表示相機(jī)不同的曝光狀態(tài)（欠曝、適曝、過(guò)曝）。據(jù)圖完成第10-11題
搭建電路時(shí)，用指針式多用電表歐姆擋檢測(cè)相關(guān)元器件，下列元器件最可能損壞的是（　　）

A．選擇“×1k”擋檢測(cè) R1，光線變化時(shí)指針小幅度擺動(dòng)

B．選擇“×100”擋檢測(cè) VT1，紅表筆接 a,黑表筆接 b,指針偏轉(zhuǎn)幅度小

C．選擇“×100”擋檢測(cè) VD1，紅表筆接 c,黑表筆接 b,指針指向“0”附近

D．選擇“×1k”擋檢測(cè) RP1，指針指向“10”附近

發(fā)布：2024/7/4 8:0:9組卷：0引用：0難度：0.5

A．擋位變換后，均需要進(jìn)行機(jī)械調(diào)零

B．此時(shí)測(cè)量的是電位器的最小阻值

C．黑表筆與定臂A相接，紅表筆與動(dòng)臂相接后，轉(zhuǎn)動(dòng)旋柄，發(fā)現(xiàn)指針右偏，說(shuō)明阻值變小

D．黑表筆與定臂A相接，紅表筆與定臂B相接后，轉(zhuǎn)動(dòng)旋柄，指針偏轉(zhuǎn)

發(fā)布：2024/7/4 8:0:9組卷：1引用：2難度：0.5

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