圖甲是用光的干涉法來檢查物體平面平整程度的裝置,其中A為標準平板,B為被檢查其平面的物體,C為入射光,圖乙和圖丙分別為兩次觀察到的干涉條紋,下列說法正確的是( ?。?br />
【考點】用薄膜干涉檢查工件的平整度.
【答案】A;B;E
【解答】
【點評】
聲明:本試題解析著作權屬菁優(yōu)網(wǎng)所有,未經(jīng)書面同意,不得復制發(fā)布。
發(fā)布:2024/4/20 14:35:0組卷:127引用:1難度:0.6
相關試卷